德國EPK F20 測厚儀探頭 測厚范圍0~20000um
德國(guo)EPK 測厚(hou)儀探(tan)頭(tou)(tou)F20是MiniTest 1100/2100/3100/4100的選配探(tan)頭(tou)(tou)，測厚(hou)范圍為(wei)0~20000um，F20探(tan)頭(tou)(tou)是磁性(xing)探(tan)頭(tou)(tou)，測試分辨率為(wei)10μm。

德國EPK 測厚儀(yi)探頭F20是適(shi)合(he)測量鋼結構（如水箱(xiang)、管(guan)道(dao)等）上的防(fang)腐(fu)覆層(ceng)，如玻璃、塑膠、混凝土等的磁性測(ce)(ce)頭，測(ce)(ce)量量(liang)程(cheng)低端分辨率為10μm。

MiniTest 標準測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)與特(te)殊測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是涂層測(ce)(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)的(de)(de)(de)核(he)心部(bu)件。為(wei)了(le)符(fu)合客(ke)戶的(de)(de)(de)不同(tong)要求，我們除了(le)供應符(fu)合常規要求的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)以外(wai)， 還可(ke)(ke)以為(wei)客(ke)戶定做適合特(te)殊用(yong)(yong)(yong)途的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)。EPK公(gong)(gong)(gong)司(si)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是現(xian)代生產(chan)技術(shu)和50多年表(biao)面處(chu)(chu)理經(jing)(jing)驗(yan)的(de)(de)(de) *結晶(jing)。 智(zhi)能化測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) EPK公(gong)(gong)(gong)司(si)開(kai)發(fa)出(chu)了(le)一(yi)(yi)系(xi)列“智(zhi)能化測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)"，即(ji)同(tong)一(yi)(yi)臺主機可(ke)(ke)連接不同(tong)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)來使(shi)用(yong)(yong)(yong)。測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)參數和 特(te)性曲線存儲在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)里，由主機的(de)(de)(de)微處(chu)(chu)理器(qi)處(chu)(chu)理。客(ke)戶可(ke)(ke)以根(gen)據(ju)自己的(de)(de)(de)特(te)殊要求修訂(ding)這一(yi)(yi)曲線。 耐(nai)磨測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 在(zai)制造測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)時，EPK公(gong)(gong)(gong)司(si)大量(liang)運(yun)用(yong)(yong)(yong)鐘表(biao)業(ye)的(de)(de)(de)精密生產(chan)工藝(yi)。為(wei)保(bao)證其使(shi)用(yong)(yong)(yong)壽命，所有測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)都(dou)經(jing)(jing)過特(te) 殊工藝(yi)處(chu)(chu)理，可(ke)(ke)以有效(xiao)避免在(zai)長期使(shi)用(yong)(yong)(yong)后留下磨痕。測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的(de)(de)(de)接觸端部(bu)使(shi)用(yong)(yong)(yong)寶(bao)石(shi)、硬質金屬與特(te)殊合金 等高耐(nai)磨材料。測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)尖的(de)(de)(de)表(biao)面經(jing)(jing)過打(da)磨，及(ji)時在(zai)易損的(de)(de)(de)物體上測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)也不會留下痕跡。 兩用(yong)(yong)(yong)型(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 對于那些(xie)需要在(zai)鋼鐵和有色金屬基體上都(dou)進行測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)用(yong)(yong)(yong)戶，EPK公(gong)(gong)(gong)司(si)研制出(chu)的(de)(de)(de)兩用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)FN型(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)，可(ke)(ke) 以用(yong)(yong)(yong)一(yi)(yi)直測(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)解決F和N兩類測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)問題。