產品概述
英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
無論對分(fen)析速(su)度的要求有(you)多高，我們創(chuang)新的CCI光(guang)學(xue)(xue)裝置非(fei)接觸式(shi)光(guang)學(xue)(xue)輪廓儀(yi)都能(neng)為您提供精(jing)密的3D表面測(ce)(ce)量結果。 高分(fen)辨(bian)率相機與(yu)1/10埃垂直分(fen)辨(bian)率相結合，無論是(shi)測(ce)(ce)量非(fei)常粗(cu)糙的表面，還是(shi)測(ce)(ce)量極其光(guang)滑的表面，都能(neng)獲得令人不可思議的詳細分(fen)析。
●2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
●全量(liang)程0.1埃的分辨率
●輕松測量反射率為(wei)0.3% - 100%的各種表面
●RMS重復精(jing)(jing)度<0.2埃，階躍高度重復精(jing)(jing)度<0.1%
●多語言版本(ben)的64位控(kong)制和(he)分析軟(ruan)件(jian)
先進的光學干涉測量技術
• 非壓(ya)電陶瓷閉環Z軸掃描控制(zhi)，2.2毫米掃描范圍
• 改進后的拼接(jie)功(gong)能，使Z軸(zhou)量(liang)程可達100毫(hao)米(mi)
• 1024 x 1024像(xiang)素(su)陣列(lie)可獲(huo)得高分辨率的大視場(chang)
• 增強了(le)角度靈敏(min)度，能夠(gou)得(de)到更好(hao)的測量數據(ju)
從實質上消除測量的不確定性
• RMS重復性小于0.2埃(ai)，臺(tai)階(jie)高(gao)度重復性小于0.1%
• 整(zheng)個(ge)測(ce)量量程(cheng)有著0.1埃分辨率
• FEA優化(hua)機械設計，具備出色的R&R能(neng)力
• 采用ISO標準的(de)校準，確(que)保(bao)結果的(de)可信度(du)
追求長期成本效益的堅固耐用設計
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴(gui)的維修費用
• 自(zi)動表面檢測可(ke)防止撞(zhuang)壞鏡頭
• 內置(zhi)自我診斷工具(ju)可快速、輕松(song)地(di)排除故障(zhang)
• 操作(zuo)的簡便(bian)性可減少(shao)使(shi)用者出錯可能
64位控制和分析軟件
• 包(bao)括中(zhong)文、日文在(zai)內的多語種支(zhi)持
• 兼容大多數計算機平(ping)臺，有(you)利于開展合(he)作性研究項(xiang)目(mu)
• 提(ti)供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程(cheng)中(zhong)進(jin)行4D分(fen)析
• 根據多批次測量數據自動生成(cheng)報(bao)告
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